NTTと北海道大学は、20MeV以上で陽子と中性子の半導体ソフトエラー発生率が等しいことを世界で初めて実証しました。地上試験のコスト削減や期間短縮が期待されます。
- NTTと北海道大が20MeV以上で陽子と中性子の半導体ソフトエラー発生率が等しいことを世界で初めて実証しました。- 地上の中性子照射試験で陽子試験を代替できる可能性を示したぽい。 - 試験コスト・期間削減や装置の予約待ち解消、機器全体評価が期待され、重イオン評価やISS(PEGASUS)での実証へ進むと報告され、IEEE誌に掲載されました。